高光譜成像系統(tǒng)的硬件由哪些部件構(gòu)成?
發(fā)布時間:2023-09-22
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高光譜成像技術(shù)由硬件和軟件兩部分組成,其中硬件的主要功能為光譜數(shù)據(jù)的獲取,軟件的主要功能為光譜數(shù)據(jù)的分析。硬件主要由光源、分光部件、CCD、圖像采集系統(tǒng)和計算機(jī)等部分組成。本文對個硬件的要求做了詳細(xì)的介紹,對此感興趣的朋友可以了解一下!
高光譜成像技術(shù)由硬件和軟件兩部分組成,其中硬件的主要功能為光譜數(shù)據(jù)的獲取,軟件的主要功能為光譜數(shù)據(jù)的分析。硬件主要由光源、分光部件、CCD、圖像采集系統(tǒng)和計算機(jī)等部分組成。本文對個硬件的要求做了詳細(xì)的介紹,對此感興趣的朋友可以了解一下!
高光譜成像系統(tǒng)硬件組成部分主要包括光源、探頭和數(shù)據(jù)處理機(jī)(計算機(jī)),如下圖,被檢測樣本放置于移動平臺上,在光源照射下圖像與光譜的數(shù)據(jù)信息由探頭采集至計算機(jī)中,各類樣本有較為適用的硬件種類和采集形式。
1.光源與探頭
光源與探頭是高光譜成像系統(tǒng)中易影響檢測結(jié)果的兩部分。
(1)光源
包括鹵素?zé)?、發(fā)光二極管(LED)、激光和可調(diào)光源,各類光源屬性如下。
①鹵素?zé)簦海?)光源特性:白熾燈的發(fā)光原理;(2)優(yōu)點(diǎn):工作電壓低、反射率高;(3)缺點(diǎn):壽命短、溫度高、譜峰易產(chǎn)生偏差;(4)應(yīng)用范圍:可用于檢測食品表面與內(nèi)部波段范圍:340~800nm。
②發(fā)光二極管(LED):(1)光源特性:半導(dǎo)體光源;(2)優(yōu)點(diǎn):體積小、成本低、響應(yīng)迅速、節(jié)能、光線可以自由排布;(3)缺點(diǎn):抗電壓波動能力差、發(fā)光強(qiáng)度偏低;(4)應(yīng)用范圍:波段范圍:紫外到短波近紅外——400~1100nm。
③激光:(1)光源特性:單色光源;(2)優(yōu)點(diǎn):方向性強(qiáng)、相干性小;(3)缺點(diǎn):帶寬幅度窄;(4)應(yīng)用范圍:不同顏色激光有其特定波長,主要檢測食品質(zhì)量細(xì)微變化。
④可調(diào)光源:(1)光源特性:調(diào)節(jié)光源的帶寬和波長;(2)優(yōu)點(diǎn):被檢測樣本的損傷小;(3)缺點(diǎn):受保護(hù)性差;(4)應(yīng)用范圍:用于區(qū)域掃描波段范圍:0~1600nm。
(2)探頭
由鏡頭、成像光譜儀和光電轉(zhuǎn)模塊組成,它逐個記錄各個特征波段下的圖像和光譜,完成光電信號的轉(zhuǎn)換。成像光譜儀中的濾輪和可調(diào)濾波器決定了不同波段光譜和圖像的獲取,是高光譜“三維”圖像的根源。光電轉(zhuǎn)換元件分為電荷耦合元件(CCD)和互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo) 體(CMOS)兩種,它們都由數(shù)以百萬計的光電二極管緊密排列組成,入射光子通過光電二極管完成了光電信號的轉(zhuǎn)換,相比于 CCD,CMOS的敏感度較低,被檢測信號容易產(chǎn)生更大的噪聲和灰度,但它成本低廉,更容易投入市場,在流水線的檢測中占據(jù)主流。
2.掃描形式
高光譜成像掃描形式分為點(diǎn)掃描、線掃描、區(qū)域掃描和點(diǎn)散掃描,它們的工作形式和硬件要求如下:
①點(diǎn)掃描:
(1)工作形式:全波段逐個記錄圖像中每個像素點(diǎn)的光譜信息;
(2)性能特點(diǎn):全面的反映光譜信息,耗時長,適用于精確分析;
(3)硬件要求:后臺CPU計算能力強(qiáng)大。
②線掃描:
(1)工作形式:以行為單位全波段的記錄光譜信息,是一種帶狀推掃模式;
(2)性能特點(diǎn):最常用的掃描形式,適用于流水線上檢測;
(3)硬件要求:感應(yīng)元件曝光時間短。
③區(qū)域掃描:
(1)工作形式:每次獲取一個區(qū)域平面單個波段的光譜信息;
(2)性能特點(diǎn):被檢測物體只能是靜止?fàn)顟B(tài);
(3)硬件要求:感應(yīng)元件曝光時間短。
④點(diǎn)散掃描:
(1)工作形式:從某點(diǎn)發(fā)散獲取圖像與波長的全信息;
(2)性能特點(diǎn):簡單高效,未廣泛應(yīng)用;
(3)硬件要求:大面積的探頭。
3.感應(yīng)模式
高光譜成像系統(tǒng)中的感應(yīng)模式分為漫反射(散射)、反射和透射。漫反射模式下光源與探頭有一定的角度,可以避免反射光帶來的干擾,通常用來檢測樣本的大小、形狀、顏色、表面紋理和外部缺陷。相比于漫反射,反射(鏡面反射)可以更深層次的挖掘樣本的內(nèi)部信息,但也要防止反射光源的干擾。透射模式的光源位于探頭對面,獲取樣本透射光帶來的內(nèi)部信息。透射模式通常用來檢測物體內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)和缺陷,被檢測對象要相對透明。
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